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泰勒霍普森PGI相位輪廓儀信息

更新時間:2026-07-07      瀏覽次數:105
PGI(相位光柵干涉)系列是泰勒霍普森的高精度測量系統,專為需要精度的研發、計量室及精密光學制造而設計215。該系列包含多個細分型號:
  • PGI Optics PRO(光學測量):

    • 專為精密光學測量打造,最大測量口徑可達 300 mm(一次測量,無需拼接)。

    • 采用專有 PGI 技術,結合短測針、高剛度和小測力,輕松測量大矢高工件及柔軟表面。

    • 支持球面、非球面、衍射面和菲涅爾面透鏡的高精度測量。

    • 全新 Freeform 模塊提供自由曲面光學元件的 3D 光柵測量與分析2。

  • PGI Freeform(自由曲面測量):

    • 采用柵式/徑向掃描方式進行三維光柵及徑向分析。

    • 可測量環面、雙錐面、合成非球面、橢球面、NURBS 樣條曲面等復雜曲面。

    • 測針測量范圍可達 28 mm,分辨率高達 0.8 nm,測量角度達 50°,面型誤差小于 150 nm613。

  • PGI NOVUS(綜合高精度測量):

    • 擁有行業 20 mm 量具量程和 0.2 nm 分辨率。

    • 能夠以相同的速度和精度,在正向和反向方向測量表面光潔度、直徑和夾角。

    • 是軸承、噴油器、航空發動機葉片等精密部件制造商的理想解決方案810。

  • PGI Dimension(超高精度光學測量):

    • 形狀測量重復性典型值 <50 nm。

    • 邊緣測量角度可達 85°,測量直徑超過 200 mm(矢高 <20 mm)。

    • 具備全自動調心調平功能及非球面分析軟件,支持未知表面逆推系數分析1214


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