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非接觸式白光干涉輪廓儀
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2020-07-17訪 問 量：2333
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非接觸式白光干涉輪廓儀
結構緊湊的高新能白光干涉儀
無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將*的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI特別的薄膜厚度測量功能，進一步*了為光學工業而設計的出色計量包裝 。
? 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
? 全量程0.1埃的分辨率
? 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
? RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
? 多語言版本的64位控制和分析軟件
• 非壓電陶瓷閉環Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
• 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
• 1024 x 1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
• 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數據
• RMS重復性小于0.2埃，臺階高度重復性小于0.1%
• 整個測量量程有著0.1埃分辨率
• FEA優化機械設計，具備出色的R&R能力
• 采用ISO標準的校準，確保結果的可信度
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用
• 自動表面檢測可防止撞壞鏡頭
• 內置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡便性可減少使用者出錯可能
• 包括中文、日文在內的多語種支持
• 兼容大多數計算機平臺，有利于開展合作性研究項目
• 提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進行4D分析
• 根據多批次測量數據自動生成報告
許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優勢,成為在眾多應用場合中研發和質量保證的理想工具。
? 材料研究
| ? 醫療植入物
| ? SIMS凹面 |
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